Machine Learning para Aplicaciones de Alto Riesgo: Enfoques hacia una IA Responsable
A

Machine Learning para Aplicaciones de Alto Riesgo: Enfoques hacia una IA Responsable

Autor
Patrick Hall, James Curtis, Parul Pandey
Editorial
O'Reilly Media
Año
2023
Idioma
Inglés
61
Calificar este libro

Para leer el libro, iniciar sesión / registrarse

Vista previa del fragmento